低頻電磁檢測(cè)技術(shù)LFET（Low Frequency Electromagnetic Technique）使用離散的激勵(lì)和接收傳感器,，在較低的頻率（≤10Hz）下激發(fā)產(chǎn)生一個(gè)交變電磁場(chǎng),，并穿透被測(cè)材料,，根據(jù)缺陷產(chǎn)生機(jī)理研究出相應(yīng)信息處理技術(shù)和顯示手段,，從而得出更可靠的缺陷信息,。 這種技術(shù)相對(duì)其他傳統(tǒng)方法磁泄漏(MFL)及超聲(UT)有許多優(yōu)優(yōu)越性,，主要用于常壓儲(chǔ)罐底板的檢測(cè),。
